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對(duì)手持合金分析儀還不夠了解？請(qǐng)看這里

更新時(shí)間：2022-05-05 點(diǎn)擊次數(shù)：1998

　　手持合金分析儀利用X熒光光譜分析的理論和方法，目前已經(jīng)廣泛用于科學(xué)研究，工業(yè)制造生產(chǎn)等各環(huán)節(jié)的材料分析，鑒別，管控，保證質(zhì)量的現(xiàn)場檢測和快速分析。幾乎一切長久的運(yùn)用手持X射線熒光（XRF）儀器的人都現(xiàn)已痛苦地認(rèn)識(shí)到了儀器前端的靈敏性，更具體地說，是那脆弱的X射線探測器。要是探測器被刺穿需要高昂的花費(fèi)去維修，切記小心避免。

　　為了保證最佳功能并檢測乃至最輕的元素，例如鎂，鋁，硅，硫和磷，探測器有必要放置在非?？拷闪看翱诘奈恢谩４翱谶€有必要用最薄的材料制成，以保證信號(hào)到達(dá)探測器時(shí)不會(huì)衰減。這種組合使XRF分析儀的前端非常靈敏，而探測器的刺穿是意外損壞儀器的最常見原因。

　　在過去的幾年中，業(yè)界現(xiàn)已開發(fā)出了防止探測器刺穿的方法。解決方案一般是維護(hù)丈量窗口或探測器自身的另一種類型的屏蔽。防護(hù)罩為現(xiàn)場操作供給了額外的安全維護(hù)，可是有一個(gè)缺點(diǎn)需求考慮。

　　當(dāng)在探測器和被測樣品之間的途徑中放置任何東西時(shí)，總是會(huì)在必定程度上損害分析功能。這是基本XRF物理設(shè)置的約束。一般，運(yùn)用防護(hù)罩意味著稍長的丈量時(shí)刻和更高的輕元素檢測極限。

　　例如，如果您需求監(jiān)督不銹鋼中的磷含量或根據(jù)鎂和硅的含量挑選接近的鋁級(jí)，則一般不可能運(yùn)用屏蔽，而且在挑選儀器時(shí)有必要考慮到這一點(diǎn)。

　　手持合金分析儀的發(fā)展更迭使得現(xiàn)在即使在惡劣的環(huán)境下也能夠安全地操作儀器。可是，物理定律設(shè)置了一些無法戰(zhàn)勝的約束，而制作真真正正不可摧的儀器仍然是一個(gè)不小的挑戰(zhàn)。

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